一种无损检测曝光支架
授权
摘要

本实用新型公开了一种无损检测曝光支架,属于无损检测技术领域,技术要点包括两个固定环,两个所述固定环的底部设置有移动组件,两个所述固定环的内部与外侧设置有驱动组件,两个所述固定环的外侧设置有调节组件,两个所述固定环的外侧设置有放置组件,所述移动组件包括四个立柱、四个万向轮与把手,四个所述立柱分别固定连接至两个固定环的外侧,四个所述万向轮分别安装至四个立柱的底端,所述把手安装至右侧两个立柱的外侧。该实用新型,便于针对检测物品,对探伤机的检测位置与角度进行调节,整个过程中智能化控制,保证检测效果的同时省时省力,便于推广使用。

基本信息
专利标题 :
一种无损检测曝光支架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122583808.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-26
授权号 :
CN216594863U
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
杨永利胡莎
申请人 :
武汉鑫海裕隆测试工程有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市武昌区和平街余家头村欧景苑五期A座29层4号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202122583808.5
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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