一种无损检测曝光支架
授权
摘要
本实用新型公开了一种无损检测曝光支架,涉及无损检测领域,其技术方案要点是:包括底座,底座上设有若干万向轮,所述底座上设有第一气缸,所述第一气缸背向底座的一端连接有旋转柱,所述旋转柱上端固定设有支撑轴,所述支撑轴背向旋转柱的一端固定连接有支撑块,所述支撑块一侧侧壁上铰接有平行于底座的水平杆,所述水平杆一端设有放置框,所述探伤机放置在放置框中,所述放置框朝向底座的底壁开设有供探伤机发出的射线的穿孔,所述旋转柱上设有调节水平杆与旋转柱轴向之间角度的调节件,快速调节探伤机所发出的射线高度,减少探伤机掉落的情况,节省时间,提高工作效率。
基本信息
专利标题 :
一种无损检测曝光支架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021206022.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-24
授权号 :
CN212904592U
授权日 :
2021-04-06
发明人 :
崔刚吴胜海沈小超喻志洋张金惠朱超张柏键
申请人 :
南京裕扬工程检测有限责任公司
申请人地址 :
江苏省南京市六合区江北新区大厂街道湛水路1008号
代理机构 :
南京源古知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
马晓辉
优先权 :
CN202021206022.0
主分类号 :
G01N23/00
IPC分类号 :
G01N23/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
2021-04-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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