一种USB过流保护性能的测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种USB过流保护性能的测试装置，由于在对过流保护性能进行测试时仅需要将本测试装置上的USB公头与服务器上的USB母头连接，然后可调电阻装置便可以实现过电流，最后工作人员通过电能数据提示装置观测电能数据的变化并对USB系统的过流保护性能的测试分析，无需在主板上的USB电源点上焊接连接线，将USB公头与服务器上的USB母头连接的时间明显短于焊接的时间，提高了工作效率，不会对其他器件造成破坏。
基本信息
专利标题 ：
一种USB过流保护性能的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921577055.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-20
授权号 ：
CN211293091U
授权日 ：
2020-08-18
发明人 ：
赵国玲
申请人 ：
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
薛娇
优先权 ：
CN201921577055.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-08-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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