一种质量体角位移实验测量装置
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摘要

本实用新型涉及测量装置技术领域,尤其涉及一种质量体角位移实验测量装置,其包括角位移回转装置、回转连接板、双向线位移装置、质量体线位移安装支架及质量体,角位移回转装置包括固定底板及回转支撑,回转连接板安装于回转支撑动环上,双向线位移装置包括双向线位移安装支架、第一及第二线位移装置,质量体线位移安装支架包括第一及第二质量体线位移安装支架,质量体包括第一及第二质量体,第一质量体线位移安装支架沿第一线位移装置往复移动,第二质量体线位移安装支架沿第二线位移装置往复移动。本实用新型提供的装置既可以测量单一质量体在平面不同位置的引力场变化,也可测量两个质量体同时运动产生引力场变化。

基本信息
专利标题 :
一种质量体角位移实验测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921587095.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-24
授权号 :
CN210605030U
授权日 :
2020-05-22
发明人 :
张晨晖元鑫许永攀蒋涛唐耘
申请人 :
天津七所高科技有限公司
申请人地址 :
天津市北辰区北辰科技园区内高新大道64号
代理机构 :
天津展誉专利代理有限公司
代理人 :
马廷昭
优先权 :
CN201921587095.6
主分类号 :
G01V13/00
IPC分类号 :
G01V13/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V13/00
包括在G01V1/00至G01V11/00各组中的仪器或设备的制造、校准、清洁或修理
法律状态
2020-05-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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