一种对位导通测试治具
授权
摘要
本实用新型涉及玻璃面板导通技术领域，特别涉及一种对位导通测试治具，包括测试基板、设于测试基板上的压接导通组件和固定盖板组件，玻璃面板放置于测试基板上，玻璃面板通过压接导通组件与测试终端相连接，固定盖板组件用于固定并检测玻璃面板。设置压接导通组件与玻璃面板对位导通连接，测试终端通过压接导通组件给玻璃面板供电和烧录程序，无需人工操作压接，避免了接口错位，防止接口PI N脚摩擦及磨损；设置固定盖板组件，防止测试时玻璃面板与导通组件接口松开，避免了测试时信号时断时续；本实用新型提供的一种对位导通测试治具，在降低人工劳动强度的同时，提高了测试速度、测试效率和测试成功率。
基本信息
专利标题 ：
一种对位导通测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921628560.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-27
授权号 ：
CN210690793U
授权日 ：
2020-06-05
发明人 ：
吴志艺叶梁兴
申请人 ：
厦门恺成精密机械有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市火炬高新区（翔安）产业区翔岳路47号第一层102室
代理机构 ：
厦门加减专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张积峰
优先权 ：
CN201921628560.6
主分类号 ：
G01R31/66
IPC分类号 ：
G01R31/66 G01R1/04 G01N21/956
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/66
连接的测试，例如插头或不可断开连接测试
法律状态
2020-06-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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