VCSEL单颗测试底座
授权
摘要
本实用新型提供一种VCSEL单颗测试底座，包括导电底座和测试片，导电底座和测试片可拆卸连接，导电底座开设有收容测试片的凹槽，测试片与导电底座电连接，凹槽相对的两个内侧壁上均设有一固定测试片位置的限位台，测试片位于限位台下方，测试片位于两限位台之间的部分上开设有固定VCSEL芯片的固定槽，固定槽内涂覆与VCSEL芯片电连接的导电胶黏剂。本实用新型提供的VCSEL单颗测试底座可以在一块测试片上固定多种规格VCSEL芯片，芯片放置在测试片的固定槽内，安装芯片简单方便，芯片牢固不移动。因为导电底座尺寸大，重量大，可以有效增加芯片与测试机台的接触面积，增加测试准确性。
基本信息
专利标题 ：
VCSEL单颗测试底座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921686609.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-10
授权号 ：
CN211528605U
授权日 ：
2020-09-18
发明人 ：
周汉川
申请人 ：
湖北光安伦芯片有限公司
申请人地址 ：
湖北省鄂州市葛店开发区高新三路光谷联合科技城第C9栋5单元
代理机构 ：
北京汇泽知识产权代理有限公司
代理人 ：
秦曼妮
优先权 ：
CN201921686609.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-09-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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