测试电路及电子设备
授权
摘要
本实用新型属于自动化测试技术领域，公开了一种测试电路及电子设备，所述测试电路包括：微控制器及至少两个扩展接口，各所述扩展接口类型不同；其中，所述微控制器与终端连接；所述微控制器还分别与所述至少两个扩展接口连接。所述测试电路通过与终端连接来实现对扩展接口的控制，同时，所述测试电路设计多个扩展接口可实现功能拓展，解决了当待测设备具有多个不同接口时需要采用多个不同接口的测试设备进行测试的问题，从而为全自动化测试提供了保障，所述测试电路结构简单，降低了操作强度，效率高，减少了时间和人力的浪费。
基本信息
专利标题 ：
测试电路及电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921719575.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-14
授权号 ：
CN211236056U
授权日 ：
2020-08-11
发明人 ：
孙声鹏曹芝勇
申请人 ：
深圳TCL数字技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市前海深港合作区前湾一路鲤鱼门街一号前海深港合作区管理局综合办公楼A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
宋朝政
优先权 ：
CN201921719575.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-08-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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