一种基于FPGA的测试单元及其测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于FPGA的测试单元，其包括地址产生单元、数据产生单元、地址编码控制单元、发送接收控制单元和用于控制错误信息的错误存储控制单元，所述数据产生单元与所述地址编码控制单元分别与所述地址产生单元信号连接，所述地址编码控制单元和所述数据产生单元分别与所述发送接收控制单元信号连接，所述发送接收控制单元与所述错误存储控制单元信号连接。本实用新型还公开了一种测试系统。其能存储待测芯片在测试中出现的错误信息，而可以分析待测芯片出现错误的内在原因。
基本信息
专利标题 ：
一种基于FPGA的测试单元及其测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921733202.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-16
授权号 ：
CN211123144U
授权日 ：
2020-07-28
发明人 ：
曹佶赵宝忠
申请人 ：
杭州可靠性仪器厂
申请人地址 ：
浙江省杭州市萧山区经济开发区鸿达路157号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921733202.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-07-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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