一种用于金相试样的磨制装置
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摘要
一种用于金相试样的磨制装置，所述装置包括夹持部分、支架部分以及设置在支架部分上的研磨部分和压力调节部分；所述支架部分包括立柱、底座、上横架和下横架；所述立柱设置在底座上；所述上横架和下横架均设置在立柱上；所述夹持部分设置在压力调节部分的下端；所述压力调节部分包括紧固螺母、螺杆、旋钮、滑套和弹簧；所述滑套与上横架滑动配合；所述螺杆连接在紧固螺母上；所述螺杆的上端连接有旋钮，且螺杆的下端通过弹簧与连接管连接；所述紧固螺母位于滑套的上表面。本实用新型能够对工件进行高效研磨，它大大降低了工人的劳动强度，提高了工件的加工质量。
基本信息
专利标题 ：
一种用于金相试样的磨制装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921755293.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-18
授权号 ：
CN210953578U
授权日 ：
2020-07-07
发明人 ：
郦墨岚
申请人 ：
郦墨岚
申请人地址 ：
天津市河东区褔天道陶然庭院27-1002
代理机构 ：
石家庄冀科专利商标事务所有限公司
代理人 ：
高锡明
优先权 ：
CN201921755293.9
主分类号 ：
G01N1/28
IPC分类号 ：
G01N1/28 G01N1/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样；制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
法律状态
2020-07-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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