一种用于扫描电镜检测的试样磨制装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于扫描电镜检测的试样磨制装置,包括底板、底柱、立柱、转盘、固样器、砂纸、电机和圆盖,所述底板安装在四根底柱的上端,所述立柱安装在底板的上端,所述固样器球端与立柱凹槽连接,所述转盘置于底板的上端,所述砂纸覆盖全部转盘,所述电机置于底板的下端,所述电机辊轴依次穿过底板、转盘与砂纸,所述圆盖与电机辊轴连接。本装置可在磨制预定厚度的电镜试样的过程中实现自动化,且能同时磨制四个电镜试样。具有操作简单,精确高效,省时省力的优点,便于推广应用。

基本信息
专利标题 :
一种用于扫描电镜检测的试样磨制装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122449784.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-12
授权号 :
CN216525543U
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
程超王谦钟秀梅刘富强马海萍马金莲高中南江志杰马星宇许晓威孙钦瑶
申请人 :
甘肃省地震局(中国地震局兰州地震研究所)
申请人地址 :
甘肃省兰州市城关区东岗西路450号
代理机构 :
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 :
朱广
优先权 :
CN202122449784.4
主分类号 :
G01N23/2251
IPC分类号 :
G01N23/2251  G01N23/2202  G01N1/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
法律状态
2022-05-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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