一种回转轴线几何精度检测所用位移传感器微调装置
授权
摘要
本实用新型公布了回转轴线几何精度检测所用位移传感器微调装置，该装置包括姿态微调单元、位置微调单元；所述姿态微调单元能进行传感器支架的姿态调节，以保证传感器支架与被测回转轴线平行；所述位置微调单元能分别进行位移传感器位置调整，以保证位移传感器始终对准标准棒上标准球的高点；所述位置微调单元通过螺钉与姿态微调单元固定连接。本实用新型的回转轴线几何精度检测所用位移传感器微调装置能有效降低传感器支架安装倾斜与位移传感器未对准标准球高点引入的测量误差，从而提高了回转轴线几何精度检测精度。
基本信息
专利标题 ：
一种回转轴线几何精度检测所用位移传感器微调装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921761247.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-21
授权号 ：
CN210893056U
授权日 ：
2020-06-30
发明人 ：
杨川贵米良刘兴宝唐强陈衡夏仰球滕强周怡帆杜坤
申请人 ：
中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
申请人地址 ：
四川省绵阳市绵山路64号
代理机构 ：
中国工程物理研究院专利中心
代理人 ：
翟长明
优先权 ：
CN201921761247.X
主分类号 ：
G01B21/04
IPC分类号 ：
G01B21/04 G01B21/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B21/04
通过测量各点的坐标
法律状态
2020-06-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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