本实用新型涉及一种多用途光电性能联合原位测试池，属于半导体光电功能材料和器件领域，包括高压密封系统、样品加热/测试台、宽光谱透光窗口和安全阀；高压密封系统包括高压池体、主密封系统，高压池体的下部设置有宽光谱透光窗口，样品台导热板的表面安装测试探针，高压密封系统的主密封系统上还设置有进气管、热电偶插管、排气管和加热/测试电极。本实用新型可以在测试高压、加热、特殊气氛、强激光、强磁场等因素单独或两种以上联合作用下，连续、原位地测定半导体材料和器件的电输运性能。通过这个过程，一方面实现对半导体材料和器件性能的有效调控，另一方面可以发现新的性质和现象，为研制具有特殊功能的半导体光电器件奠定基础。