高精度固定面变形量测量装置

授权

摘要

一种高精度固定面变形量测量装置，包括两套游标螺旋测微装置、连接杆和支座，连接杆包括横杆和竖杆，横杆两端分别连一套游标螺旋测微装置，竖杆固定在横杆中部，竖杆一端连接在支座上，游标螺旋测微装置包括螺旋测微器、扩展可动刻度圆盘、弧形游标和游标支架，测微螺杆的中心轴线、扩展可动刻度圆盘的中心轴线和弧形游标中心轴线在同一直线上，扩展可动刻度圆盘套固在活动刻度的套管上，扩展可动刻度圆盘的刻度线的刻度标记是与所对应的活动刻度线的刻度标记的10倍数值，调零状态，固定刻度的基准线、活动刻度的0刻度线、扩展可动刻度圆盘的0刻度线和游标的0刻度线全部对应，游标上的n个等分刻度的长度等于该扩展可动刻度圆盘的n‑1个等分刻度的长度。

基本信息

专利标题：

高精度固定面变形量测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921774668.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-22

授权号：

CN210603159U

授权日：

2020-05-22

发明人：

黄费新李岩阎浩程杨吴华英

申请人：

中国冶金地质总局矿产资源研究院

申请人地址：

北京市顺义区机场东路2号国家地理信息科技园2A组团3号楼

代理机构：

北京北新智诚知识产权代理有限公司

代理人：

朱丽华

优先权：

CN201921774668.6

主分类号：

G01B5/30

IPC分类号：

G01B5/30 G01B5/02