一种建筑变形高精度测量装置
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摘要
本实用新型公开了一种建筑变形高精度测量装置，涉及工程测量仪器技术领域，为解决现有的建筑变形高精度测量装置在对内部的检测镜的保护机构上比较的缺乏，从而导致外部的物品对检测镜造成损坏的问题。所述高精度测量主体的上方设置有移动提手杆，所述移动提手杆下端面的两端均设置有第一安装块，且第一安装块设置有两个，两个所述第一安装块和移动提手杆固定连接，两个所述第一安装块均通过第一螺栓机构与高精度测量主体螺纹连接，且第一螺栓机构设置有八个，所述高精度测量主体的下方设置有高精度测量下基座。
基本信息
专利标题 ：
一种建筑变形高精度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921906456.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-07
授权号 ：
CN210802388U
授权日 ：
2020-06-19
发明人 ：
刘洋关峰金柯占慧鸣鲁晓磊林健
申请人 ：
武汉中合众建筑科学工程有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市汉阳区龟北路1号55-1#
代理机构 ：
武汉国越知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
张熔舟
优先权 ：
CN201921906456.9
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16 G01C5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
2020-06-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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