一种测量沉降变形的高精度装置

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摘要

本实用新型公开了一种测量沉降变形的高精度装置，包括基准位平衡机构、测点位测量机构和连通导管，测点位测量机构和连通导管均有N个，测点位测量机构包括第二储液槽、测量管组和活接头，测量管组包括导流管和多个测量管，导流管呈蛇形，导流管的一端通过活接头与第二出液口A出口连通，导流管的水平高度自其与第二出液口A连接的一端到其另一端的延伸方向依次降低，多个测量管沿着导流管的延伸方向依次分布，且各测量管的上端口与导流管连通。该装置结构简单，制作成本低廉，安装和拆卸方便，且可实现同时对多处观测点进行实时监测。

基本信息

专利标题：

一种测量沉降变形的高精度装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922161384.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-05

授权号：

CN211504088U

授权日：

2020-09-15

发明人：

赵挺生张充蒋灵潘志忠况宇琦张雷张伟

申请人：

华中科技大学;深圳市建工集团股份有限公司

申请人地址：

湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

代理机构：

武汉宇晨专利事务所

代理人：

董路

优先权：

CN201922161384.6

主分类号：

G01C5/00

IPC分类号：

G01C5/00