一种测量沉降变形的高精度装置
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摘要
本实用新型公开了一种测量沉降变形的高精度装置,包括基准位平衡机构、测点位测量机构和连通导管,测点位测量机构和连通导管均有N个,测点位测量机构包括第二储液槽、测量管组和活接头,测量管组包括导流管和多个测量管,导流管呈蛇形,导流管的一端通过活接头与第二出液口A出口连通,导流管的水平高度自其与第二出液口A连接的一端到其另一端的延伸方向依次降低,多个测量管沿着导流管的延伸方向依次分布,且各测量管的上端口与导流管连通。该装置结构简单,制作成本低廉,安装和拆卸方便,且可实现同时对多处观测点进行实时监测。
基本信息
专利标题 :
一种测量沉降变形的高精度装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922161384.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-05
授权号 :
CN211504088U
授权日 :
2020-09-15
发明人 :
赵挺生张充蒋灵潘志忠况宇琦张雷张伟
申请人 :
华中科技大学;深圳市建工集团股份有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
代理机构 :
武汉宇晨专利事务所
代理人 :
董路
优先权 :
CN201922161384.6
主分类号 :
G01C5/00
IPC分类号 :
G01C5/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C5/00
高程测量;横向视距测量;分开点间的水准测量;水准仪
法律状态
2020-09-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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