一种用于XRD分析仪的自适应原位样品台
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于XRD分析仪的自适应原位样品台,涉及XRD分析仪技术领域。所述自适应原位样品台,包括固定底座、支撑座、样品室、旋转轴以及伸缩式压紧机构,通过样品室的样品入口可以将任意形状的样品置于样品室内,且位于检测窗口下方,再通过伸缩式压紧机构压紧样品,避免了样品从样品入口处脱出或者在检测过程中活动,该样品台对样品的形状无限制,且通过旋转轴调整样品室的转动角度,实现样品各个角度的检测分析;该样品台还包括加热装置,以实现原位加热功能;该样品台对异形件的自适应程度高,可以进行异形件的原位加热XRD检测,大大缩短了异形件的检测流程,提高了异形件的检测效率。

基本信息
专利标题 :
一种用于XRD分析仪的自适应原位样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921868187.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-01
授权号 :
CN210982271U
授权日 :
2020-07-10
发明人 :
李侣陈文昊
申请人 :
湖南航天天麓新材料检测有限责任公司
申请人地址 :
湖南省长沙市宁乡市高新技术产业园区金州北路001号
代理机构 :
长沙正奇专利事务所有限责任公司
代理人 :
郭立中
优先权 :
CN201921868187.1
主分类号 :
G01N23/20008
IPC分类号 :
G01N23/20008  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
法律状态
2020-07-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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