一种多样品自适应XRD原位检测装置
授权
摘要
本实用新型公开一种多样品自适应XRD原位检测装置,包括:旋转样品台、顶盖、样品释放固定装置、霍尔传感器以及感应开关;旋转样品台包括样品台本体、均布设置在样品台本体上容纳样品的通孔以及驱动所述样品台本体上的驱动机构;顶盖与所述旋转样品台适配;样品释放固定装置设置在所述通孔底部,用于放置在旋转样品台上的多个样品的顶部位于同一高度的固定;霍尔传感器设置在所述样品台本体上且与所述通孔一一对应设置;感应开关设置在所述样品台本体一侧,与所述霍尔传感器相对设置,所述感应开关于所述驱动机构电性连接。本实用新型的多样品自适应XRD原位检测装置,只需设定检测参数和样品名称即可实现多样品的自动检测,节约了成本。
基本信息
专利标题 :
一种多样品自适应XRD原位检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122236797.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-09-15
授权号 :
CN216160495U
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
李侣陈文昊王宇红范余银刘明楠
申请人 :
湖南航天天麓新材料检测有限责任公司
申请人地址 :
湖南省长沙市宁乡高新技术产业园区金洲北路001号
代理机构 :
长沙德恒三权知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
徐仰贵
优先权 :
CN202122236797.3
主分类号 :
G01N23/20033
IPC分类号 :
G01N23/20033 G01N23/20008
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
G01N23/20033
具有温度控制或加热装置
法律状态
2022-04-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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