一种薄壁圆筒轴向热导率测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种薄壁圆筒轴向热导率测量装置，包括设置于两个待测薄壁圆筒端面之间的加热器，每个待测薄壁圆筒外壁上均粘贴至少一组测温元件组，两个待测薄壁圆筒和加热器组成的检测体内外分别间隔设置内反射筒和外反射筒；检测体、内反射筒和外反射筒两端分别与两个支板连接后组成的整体置于密封腔体内，密封腔体置于恒温系统中，密封腔体的顶部设置电极，电极通过内连接线束分别连接测温元件组和加热器，通过外连接线束分别连接温度巡检显示仪表和高精度功率测量仪表，高精度功率测量仪表连接恒定加热功率控制仪器。本实用新型解决了现有测量装置中存在的问题，达到薄壁圆筒轴向热导率优于|5％|的测量精度。
基本信息
专利标题 ：
一种薄壁圆筒轴向热导率测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921887323.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-05
授权号 ：
CN211014086U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
王丙柱
申请人 ：
核工业理化工程研究院
申请人地址 ：
天津市河东区津塘路168号
代理机构 ：
天津市宗欣专利商标代理有限公司
代理人 ：
马倩
优先权 ：
CN201921887323.1
主分类号 ：
G01N25/20
IPC分类号 ：
G01N25/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/20
通过测量热的变化，即量热法，例如通过测量比热，测量热导率
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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