位移测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种位移测试系统，包括离心机、微光纤探头、特征点标定标签、微光纤插入部、显像和图像采集设备、冷光源、光纤传像束、物镜、目镜、网线、工控机；本实用新型中将光纤内窥镜运用在离心动态试验任务中，充分发挥光纤内窥镜的优势，相比传统位移测量方式，产品破坏性小，基本实现原位测试，操作简单易行；利用光学成像技术对位移进行测量，通过深一步挖掘和开发图像处理算法和技术，可提高位移测量的精度和准确性，精度最高可达数个μm级别；由于光纤内窥镜直径较小，对产品破坏性也就小；且前端插入部可根据需求做不同长度，满足不同距离下的测试需求。
基本信息
专利标题 ：
位移测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921901915.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-06
授权号 ：
CN210719032U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
范庆辉文勇黄海莹张荣凌明祥周东代明香刘丹峰
申请人 ：
中国工程物理研究院总体工程研究所
申请人地址 ：
四川省绵阳市绵山路64号
代理机构 ：
北京天奇智新知识产权代理有限公司
代理人 ：
叶明博
优先权 ：
CN201921901915.4
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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