一种对相位调制激光光谱展宽状态探测的装置
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摘要
本实用新型公开了一种对相位调制激光光谱展宽状态探测的装置，所述装置包括顺序连接的光滤波器、高速光电探测器、高通滤波器和功率探测器，其中，光滤波器输入端外接相位调制激光、输出端与高速光电探测器连接，高速光电探测器的电信号输出端与高通滤波器连接，高通滤波器的输出端与功率探测器连接。这种装置成本低、结构简单、紧凑，便于集成。
基本信息
专利标题 ：
一种对相位调制激光光谱展宽状态探测的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921906446.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-07
授权号 ：
CN210513420U
授权日 ：
2020-05-12
发明人 ：
韦佳天吕宏伟陈峰唐绍宇张新立赵灏覃波杨小亮金奇唐群植邢宇鹏
申请人 ：
中国电子科技集团公司第三十四研究所
申请人地址 ：
广西壮族自治区桂林市七星区六合路98号
代理机构 ：
桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司
代理人 ：
刘梅芳
优先权 ：
CN201921906446.5
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2020-05-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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