用于测试氮化镓HEMT动态电阻的电压钳位电路及测试条件可...
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于测试氮化镓HEMT动态电阻的电压钳位电路及测试条件可控装置及测试系统。该电压钳位电路包括：高压阻断子电路、稳压子电路、防振荡子电路、滤波子电路和FPGA主控电路，具有低测量延时的特点。本实用新型还公开了一种用于测试氮化镓HEMT动态电阻的测试条件可控装置，包括用于测试氮化镓HEMT动态电阻的电压钳位电路、电压应力控制电路、电流控制电路、开关模式控制电路、封装温度控制电路，在满足检测延时大大降低的前提下，还能够对检测过程中各种因素进行控制，为检测动态电阻的准确性提供保障。本实用新型还公开了一种用于测试氮化镓HEMT动态电阻的测试系统，能够为检测动态电阻还原真实的应用环境，从而完成对动态电阻的准确性观测。
基本信息
专利标题 ：
用于测试氮化镓HEMT动态电阻的电压钳位电路及测试条件可控装置及测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921929776.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-08
授权号 ：
CN211697983U
授权日 ：
2020-10-16
发明人 ：
刘扬王自鑫王帅兵蔡英明黄伟昊
申请人 ：
中山大学
申请人地址 ：
广东省广州市海珠区新港西路135号
代理机构 ：
广州新诺专利商标事务所有限公司
代理人 ：
张玲春
优先权 ：
CN201921929776.6
主分类号 ：
G01R27/08
IPC分类号 ：
G01R27/08 H02H9/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/08
通过测量电流和电压来测量电阻
法律状态
2020-10-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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