一种选择性放大的有源谐振传感器
授权
摘要
本实用新型公开一种选择性放大的有源谐振传感器。该有源谐振传感器包括：刻槽金属地板、介质板和金属激励耦合层；介质板敷于刻槽金属地板的上表面，金属激励耦合层敷于介质板的上表面；金属激励耦合层包括放大器芯片、接地金属贴片、第一金属耦合贴片、第二金属耦合贴片和两个微带线金属激励，放大器芯片的接地引脚与接地金属贴片连接，接地金属贴片接地；放大器芯片的输入引脚焊接至第一金属耦合贴片，放大器芯片的输出引脚焊接至第二金属耦合贴片；两个微带线金属激励与外界激励源连接。本实用新型的有源谐振传感器可以弥补金属损耗、介质损耗，极大地提高谐振强度，可以选择性地放大谐振模式，相比无源谐振传感器结构，谐振强度显著提高。
基本信息
专利标题 ：
一种选择性放大的有源谐振传感器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921934318.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-11
授权号 ：
CN211348435U
授权日 ：
2020-08-25
发明人 ：
曹向明周永金
申请人 ：
江阴市人民医院;上海大学
申请人地址 ：
江苏省无锡市江阴市寿山路163号
代理机构 ：
北京高沃律师事务所
代理人 ：
刘凤玲
优先权 ：
CN201921934318.1
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
2020-08-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
