扁平探针
授权
摘要

本实用新型公开了一种扁平探针,包括上转接部、下转接部和用于连接上转接部和下转接部的弯折部,所述上转接部、所述下转接部和所述弯折部一体成型,所述弯折部包括并联设置且具有弹性的第一金属导带和第二金属导带,所述第一金属导带和第二金属导带相互对称,所述第一金属导带和第二金属导带均采用实体结构。本实用新型的弯折部不仅可以增加扁平探针的弹性,达到弹性接触待测器件的目的,还能够有效地增加了用于导电的弯折部的面积,提高扁平探针的阻抗和导通性。此外,所述第一金属导带和第二金属导带均采用实体结构,一方面可以保证弯折部具有良好的弹性和较强的过电流能力,不会在探针使用时因弹性小出现压接不紧的问题。

基本信息
专利标题 :
扁平探针
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921951956.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-13
授权号 :
CN211318536U
授权日 :
2020-08-21
发明人 :
魏伟江斌
申请人 :
苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区港田路青丘街青丘巷8号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921951956.4
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2020-08-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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