在轨红外辐射基准源温度控制系统
授权
摘要
本专利公开了一种在轨红外辐射基准源温度控制系统，特别涉及星载红外光学仪器的辐射标校用的基准源控制系统。该系统包括辐射源单元、加热器单元、温度测量单元、控制单元和隔热腔体；通过分布式测量、集中控制的方式，能够提供一种可在轨使用的红外辐射源，为星载红外光学仪器的辐射量化测量提供一种手段。
基本信息
专利标题 ：
在轨红外辐射基准源温度控制系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921985762.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-18
授权号 ：
CN210864444U
授权日 ：
2020-06-26
发明人 ：
郑建丽丁雷吴亦农赵月中杨宝玉钱婧韩昌佩
申请人 ：
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址 ：
上海市虹口区玉田路500号
代理机构 ：
上海沪慧律师事务所
代理人 ：
郭英
优先权 ：
CN201921985762.6
主分类号 ：
G05D23/30
IPC分类号 ：
G05D23/30 G01J5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G05
控制；调节
G05D
非电变量的控制或调节系统
G05D23/00
温度的控制
G05D23/19
以使用电装置为特征的
G05D23/30
具有影响传感元件的辅助加热装置的自动控制器，例如，预测温度变化的
法律状态
2020-06-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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