标签检测定位装置及其标签制造设备
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摘要

一种标签检测定位装置及其标签制造设备,标签检测定位装置,包括:标签检测调节组件、标签检测横向位移组件、标签检测升降定位组件及标签检测组件,标签检测调节组件包括标签检测调节底座、标签检测调节滑板及标签检测调节驱动件,标签检测横向位移组件包括标签检测横向定位杆、标签检测横向位移滑板及标签检测横向驱动件,标签检测升降定位组件包括标签检测升降驱动件、标签检测升降板及标签检测定位板,标签检测组件包括标签检测安装板及多标签检测成像件。本实用新型的标签检测定位装置通过设置标签检测调节组件、标签检测横向位移组件、标签检测升降定位组件及标签检测组件,从而能够对标签结构进行快速定位及检测。

基本信息
专利标题 :
标签检测定位装置及其标签制造设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922010061.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-19
授权号 :
CN211856397U
授权日 :
2020-11-03
发明人 :
蒋友兵何振梅
申请人 :
惠州市浩明科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省惠州市惠阳区平潭镇怡发工业区
代理机构 :
广州市华学知识产权代理有限公司
代理人 :
刘羽
优先权 :
CN201922010061.7
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2020-11-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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