一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置，属于射频组件测试技术领域，包括测试台、测试组件以及弹性定位组件，其中，测试台用于固定安装微波射频组件，测试台上横向滑动连接有第一托板，第一托板上纵向滑动连接有第二托板，第二托板上固定连接有滑座；测试组件与滑座沿上下方向滑动连接；测试组件用于与测试电缆电连接，且用于测试微波射频组件上的射频馈点；弹性定位组件设于测试组件与滑座之间，用于向下定位测试组件的测试位置及带动测试组件向上弹起.本实用新型提供的一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置，测试效率高，测试过程安全可靠，而且能够通用多种无连接器射频馈点输出型微波射频组件。
基本信息
专利标题 ：
一种无连接器射频馈点输出型微波射频组件的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922114321.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-29
授权号 ：
CN211402575U
授权日 ：
2020-09-01
发明人 ：
郭立涛李秀芳王振亚王立发赵瑞华王乔楠袁彪刘金庞龙连智富戎子龙刘爱平
申请人 ：
中国电子科技集团公司第十三研究所
申请人地址 ：
河北省石家庄市合作路113号
代理机构 ：
石家庄国为知识产权事务所
代理人 ：
田甜
优先权 ：
CN201922114321.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-09-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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