用于X射线光线检测的探测头
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于X射线光线检测的探测头，包括第一壳体，设置在所述第一壳体一侧的第二壳体，设置在所述第一壳体顶部的电机罩，设置在所述电机罩底部的用于支撑所述电机的支架，设置在所述支架侧壁活动的滑动架，设置在所述支架一侧的升降杆，设置在所述支架一侧的支板，所述电机罩的顶部设置有握把，所述升降杆的底部与所述支架之间为活动设置，通过设置的升降杆和滑动架的配合来实现滑动架的升降，从而能够带动射灯进行升降，来改变射灯的位置，从而调节射灯射出的光源的大小、远近，从而能够改变光源的照射范围，该装置结构简单连接紧凑，携带方便，光源为X射线。
基本信息
专利标题 ：
用于X射线光线检测的探测头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922124241.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-02
授权号 ：
CN211505278U
授权日 ：
2020-09-15
发明人 ：
陈基炜黄圣雁
申请人 ：
昆山市中医医院
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山市朝阳路189号昆山市中医医院
代理机构 ：
苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨慧林
优先权 ：
CN201922124241.8
主分类号 ：
G01N23/02
IPC分类号 ：
G01N23/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
法律状态
2020-09-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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