热敏电阻测试装置

授权

摘要

本申请公开了热敏电阻测试装置，属于热敏电阻领域。包括控制器组件和测试组件，控制器组件设置于测试组件上部，控制器组件包括控制器和控制开关，测试组件正面设有开口和测试门，测试组件竖向均匀分布有多层测试基板，测试基板上部设有多排测试基座，测试基座上设有测试探针，测试基板侧面设有滑块，测试组件内壁设有对应的滑槽，滑块插入滑槽中，并能够沿着滑槽滑动。本申请在使用时，将测试基板沿着滑槽向外拉出即可，在不使用时，将测试基板沿着滑槽向内推动，在关上测试门即可，有效地避免了测试探针裸露在外界容易堆积灰尘影响测试结果的问题，同时，本申请设计结构简洁，便于收纳，使用十分便捷。

基本信息

专利标题：

热敏电阻测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922144203.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-04

授权号：

CN211121673U

授权日：

2020-07-28

发明人：

刘刚王梅凤薛云峰唐敏高进

申请人：

句容市博远电子有限公司

申请人地址：

江苏省镇江市句容市张庙集镇

代理机构：

江苏圣典律师事务所

代理人：

吴庭祥

优先权：

CN201922144203.9

主分类号：

G01K7/22

IPC分类号：

G01K7/22 G01K1/00 G01K1/14