一种芯片pin脚高度测量装置
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摘要
本实用新型涉及芯片测量技术领域，具体揭示了一种芯片pin脚高度测量装置，包括第一外框、第一支撑板和第二支撑板，所述第一外框的内侧固定连接有支撑平台和检测块，所述支撑平台下表面的内侧固定连接有连接板，所述连接板的内侧固定连接有转轴，所述转轴的中央套设有传送带，所述传送带的表面贴合有芯片；本实用新型通过该装置的第二电机与传送带，从而达到使该装置带动芯片向右移动的作用，配合检测弧，达到可以通过芯片是否进入该装置，从而判定出该芯片上下两侧pin脚的高度是否正常的效果，再配合第一电机和电动伸缩杆，从而起到可以使芯片旋转，并测出其芯片左右两侧高度是否符合标准的作用。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片pin脚高度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922153698.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-05
授权号 ：
CN210664242U
授权日 ：
2020-06-02
发明人 ：
吴烽滨
申请人 ：
武汉市兰皓科技有限责任公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市江汉区新华路218号浦发银行大厦21层1室
代理机构 ：
北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
徐家升
优先权 ：
CN201922153698.1
主分类号 ：
G01B5/02
IPC分类号 ：
G01B5/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-06-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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