一种贴装芯片高度自动测量装置及其测试方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种贴装芯片高度自动测量装置,包括放置待测PCB板的基座、悬于待测PCB板上方的激光测距仪、激光测距仪在工字滑轨作用在X方向和Y方向运动进行位置的调整、悬于激光测距仪上方的CCD相机、PLC控制器和上位机,基座上共计设置三个以上基座Mark点,待测PCB板放置于基座Mark点围成的区域内;激光测距仪电连接上位机,CCD相机电连接上位机;PLC控制器电连接上位机。本发明还公开了一种贴装芯片高度自动测量方法。优点,本发明,芯片贴装完成后的芯片高度自动测试采用的方法及记录装置,来提升测试效率,为散热冷板设计提供准确的数据;该设备还可以作为PCB翘曲度检测设备,冷板加工后的高度一致性检测。

基本信息
专利标题 :
一种贴装芯片高度自动测量装置及其测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114353676A
申请号 :
CN202111485012.4
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-12-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李受明刘刚
申请人 :
江苏华创微系统有限公司;中国电子科技集团公司第十四研究所
申请人地址 :
江苏省南京市江北新区江淼路88号腾飞大厦C座6层
代理机构 :
南京擎天知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
涂春春
优先权 :
CN202111485012.4
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/06
申请日 : 20211207
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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