用于测试光源参数的设备
授权
摘要
本实用新型公开了用于测试光源参数的设备，涉及光源测试技术领域，包括套管，所述套管的一侧固定连接有套筒，所述套筒远离套管的一端固定连接有套筒口，所述套筒口的外表面设置有螺纹，所述套管的顶部固定连接有安装块，所述安装块的一侧固定连接有滑杆，所述滑杆的外表面活动连接有滑块。该用于测试光源参数的设备，通过套筒口、螺纹、伸缩杆、套环、转槽、第一测试片、第二测试片和第三测试片的配合设置，能够快速切换测试情况，解决了现有的变更速度慢测试效率低的情况；通过套管、套筒、滑杆、滑块、测试筒、测试箱、旋钮、伸缩杆和套环的配合设置，能够使装置结构简单易懂，解决了现有的操作繁琐使用不够便捷的情况。
基本信息
专利标题 ：
用于测试光源参数的设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922209854.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-11
授权号 ：
CN210953329U
授权日 ：
2020-07-07
发明人 ：
张延国
申请人 ：
深圳市华亿联光科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区福城街道桔塘社区福前路269号厂房三301
代理机构 ：
北京中仟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
田江飞
优先权 ：
CN201922209854.1
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2020-07-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
