用于直线测量旋转靶场强的治具
授权
摘要
本实用新型公开了用于直线测量旋转靶场强的治具，包括直线导轨(1)、导轨滑块(2)、及场强测量探头(3)，所述直线导轨(1)设置在旋转靶(7)径向外侧且沿旋转靶(7)轴向延伸，所述导轨滑块(2)与所述直线导轨(1)滑动配合，所述场强测量探头(3)设置在所述导轨滑块(2)上的。本实用新型提供的用于直线测量旋转靶场强的治具，可实现旋转靶场强的直线测量，提高测量精度和效率。
基本信息
专利标题 ：
用于直线测量旋转靶场强的治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922216445.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-11
授权号 ：
CN211453921U
授权日 ：
2020-09-08
发明人 ：
徐小明周梦荣
申请人 ：
苏州胜利精密制造科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区浒关工业园浒泾路55号
代理机构 ：
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 ：
范晴
优先权 ：
CN201922216445.4
主分类号 ：
G01R33/02
IPC分类号 ：
G01R33/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
法律状态
2020-09-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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