一种用于长条形荧光信号检测的光学分析装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于长条形荧光信号检测的光学分析装置,解决了传统光路检测长条形荧光信号存在灵敏度低、重复性差、以及背景信号干扰大的的技术问题。包括检测电路,光学分析装置壳体,以及均封装于所述光学分析装置壳体内用于发射出激发光的激发光源和位于所述激发光源的光照方向上用于将激发光精准投射至被测物的检测线T上并将检测线T所发出的荧光汇聚后投射至所述检测电路的光学组件。本实用新型结构简单、设计科学合理,使用方便。其通过提高激发光利用率,增大接受光路的接受量,控制激发光光斑形状减少背景信号干扰,从而提高检测灵敏度和重复性。
基本信息
专利标题 :
一种用于长条形荧光信号检测的光学分析装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922243530.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-13
授权号 :
CN211263193U
授权日 :
2020-08-14
发明人 :
廖政唐勇潘颖
申请人 :
四川微康朴澜医疗科技有限责任公司
申请人地址 :
四川省成都市温江区成都海峡两岸科技产业开发园科林西路618号2区603号
代理机构 :
成都九鼎天元知识产权代理有限公司
代理人 :
刘小彬
优先权 :
CN201922243530.X
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64 G01N21/01 G01J3/44 G01J3/12 G01N33/53 G01N33/58
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2020-08-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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