一种籽晶检测装置及籽晶检测系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种籽晶检测装置及籽晶检测系统，所述籽晶检测装置包括：本体以及贯穿本体的检测孔，检测孔的形状与籽晶的形状匹配，检测孔可以直接用于检测籽晶的尺寸和同轴度。通过籽晶是否可以穿设在检测孔内，或者穿设后的间隙判断籽晶是否合格。检测过程简单，操作便利，在节省工时的同时，还可以提高检测的精度。
基本信息
专利标题 ：
一种籽晶检测装置及籽晶检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922290802.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-18
授权号 ：
CN211503937U
授权日 ：
2020-09-15
发明人 ：
涂思永
申请人 ：
华坪隆基硅材料有限公司
申请人地址 ：
云南省丽江市华坪县石龙坝镇清洁载能产业园区
代理机构 ：
北京润泽恒知识产权代理有限公司
代理人 ：
莎日娜
优先权 ：
CN201922290802.1
主分类号 ：
G01B5/08
IPC分类号 ：
G01B5/08 G01B5/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/08
用于计量直径
法律状态
2020-09-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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