一种扫查反演装置及三维成像设备
授权
摘要
本实用新型涉及一种扫查反演装置及三维成像设备，通过以任意角度和任意移动方向在被测物表面进行多次移动扫查，每次扫查被测物的局部信息，通过将多次移动扫查的数据输出至图像生成装置实现被测物的三维图反演，相对于现有技术，本实用新型直观地实现对被测物的内部缺陷的检测，具有结构简单、便携、方便手持的特点。
基本信息
专利标题 ：
一种扫查反演装置及三维成像设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922292035.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-18
授权号 ：
CN211741171U
授权日 ：
2020-10-23
发明人 ：
赵明剑刘耀东张博扬李钦钦刘慧君
申请人 ：
华南理工大学
申请人地址 ：
广东省广州市天河区五山路381号
代理机构 ：
广州骏思知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴静芝
优先权 ：
CN201922292035.8
主分类号 ：
G01N29/44
IPC分类号 ：
G01N29/44 G01N29/265
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/44
处理探测的响应信号
法律状态
2020-10-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
