一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，包括高温反偏测试机机体，高温反偏测试机机体一侧的顶部固定安装有高温柜，高温柜的一侧铰接有柜门，高温柜的内部开设有三个测试腔，三个测试腔的内部抽拉连接有电子元件测试板，电子元件测试板由放置板和密封板组成，放置板的一端固定连接有密封板，三个放置板的顶部均开设有若干个放置槽，本实用新型一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，抽出和推入电子元件测试板，完成对电子元件的取放，操作方便快捷，先设定好工作的温度、电流和工作时间，电子元件在通电和高温环境下进行试验，计算不良率，分析得到电子元件寿命和性能。
基本信息
专利标题 ：
一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922341972.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-24
授权号 ：
CN211577294U
授权日 ：
2020-09-25
发明人 ：
朱永兵
申请人 ：
天津海瑞电子科技有限公司
申请人地址 ：
天津市西青区华苑产业区海泰发展六道6号海泰绿色产业基地K2-5-604
代理机构 ：
天津盛理知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘玲
优先权 ：
CN201922341972.8
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-09-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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