一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，包括主体，主体一侧的中部开设有圆形通道，圆形通道的内部滑动连接有翻转圆筒，主体一侧顶部的一侧固定安装有光源开关，主体的顶部固定安装有与圆形通道的顶部相通的半导体检测显微镜，本实用新型一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，通过调节键控制翻转圆筒活动与固定，操控翻转圆筒抽拉和旋转，实现对半导体的拆装和旋转，便于半导体检测操作，使用方便，提高检测效率；在主体内部对半导体进行检测，环形照明灯提供光源，减少了外界环境对检测的影响，提高检测质量；通过调节治具的大小，实现治具适用于不同大小的半导体，提高使用范围。
基本信息
专利标题 ：
一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922343760.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-24
授权号 ：
CN211553774U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
朱永兵
申请人 ：
天津海瑞电子科技有限公司
申请人地址 ：
天津市西青区华苑产业区海泰发展六道6号海泰绿色产业基地K2-5-604
代理机构 ：
天津盛理知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘玲
优先权 ：
CN201922343760.3
主分类号 ：
G01N21/84
IPC分类号 ：
G01N21/84 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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