一种半导体检测治具
授权
摘要
本实用新型属于检测治具技术领域,尤其为一种半导体检测治具,针对现有的检测治具大多缺少对半导体的夹持功能,从而造成检测结果容易出现误差的问题,现提出如下方案,其包括壳体,所述壳体的内侧顶部转动安装有螺纹杆,螺纹杆的外侧螺纹连接有螺纹帽,螺纹帽的左右两侧均转动安装有转动杆的一端,两个转动杆的另一端均转动安装有横杆的一端,两个横杆的另一端均延伸至壳体的外侧,两个横杆的底部均固定安装有连接杆的顶端。本实用新型将检测和夹持同步进行,通过设置的第一立孔与第二立孔,从而使得横杆与夹持杆能够得到水平方向的移动,从而带动两个夹持板得到相互靠近的运作,从而实现对半导体的夹持功能。
基本信息
专利标题 :
一种半导体检测治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021615035.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-06
授权号 :
CN212722998U
授权日 :
2021-03-16
发明人 :
陈磊磊
申请人 :
苏州市赛立鸿智能制造有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区木渎镇走马塘路59号三号楼一楼、二楼
代理机构 :
成都华复知识产权代理有限公司
代理人 :
蒋文芳
优先权 :
CN202021615035.3
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-03-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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