一种发散性太赫兹辐射源的功率测量装置

授权

摘要

本实用新型涉及一种发散性太赫兹辐射源的功率测量装置，属于太赫兹探测技术领域。包括功率计探头、功率计表头和反射光学元件，所述功率计探头的敏感面设于反射光学元件的焦点处，所述反射光学元件和功率计探头分别固定于平台上，所述反射光学元件用于接收被测发散性太赫兹辐射并将被测发散性太赫兹辐射反射于功率计探头的敏感面上，所述功率计探头和功率计表头通信，所述功率计表头用于显示功率计探头探测到的太赫兹辐射功率值。本申请不仅降低了测量装置的构件复杂度，而且减少了功率测量的误差，提高功率测量的可靠性和准确性。

基本信息

专利标题：

一种发散性太赫兹辐射源的功率测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922355959.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-25

授权号：

CN210981524U

授权日：

2020-07-10

发明人：

谭智勇沈兴华许毅曹俊诚

申请人：

江苏盖姆纳米材料科技有限公司

申请人地址：

江苏省无锡市江阴市临港新城区镇澄路3433号

代理机构：

江阴市轻舟专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

孙燕波

优先权：

CN201922355959.8

主分类号：

G01J1/42

IPC分类号：

G01J1/42