一种荧光渗透探伤检测装置
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摘要

本实用新型涉及一种荧光渗透探伤检测装置,涉及荧光探伤领域,包括暗房和探伤机,暗房内设置有检测台,检测台的上方设置有荧光探伤灯,探伤机与检测台之间设置有用于传递工件的传输装置。针对现有的荧光渗透探伤检测工作时,工件检测效率低耗时长的不足,本实用新型提供了一种可多人配合的荧光渗透探伤检测装置,具有加快工件荧光渗透探伤检测效率的效果。

基本信息
专利标题 :
一种荧光渗透探伤检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922359339.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-21
授权号 :
CN211478100U
授权日 :
2020-09-11
发明人 :
郭卫军
申请人 :
上海兴道锻造有限公司
申请人地址 :
上海市金山区枫泾镇兴桂路28号C幢
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201922359339.1
主分类号 :
G01N21/91
IPC分类号 :
G01N21/91  G01N21/64  G01N21/01  G01N27/84  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/91
利用染料的渗透性,例如荧光墨水
法律状态
2020-09-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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