基于表面探伤应用的激光器
授权
摘要
本实用新型提供一种结构设计新颖的基于表面探伤应用的激光器，包括半导体激光二极管、为半导体激光二极管提供电能的电源，还包括第一正镜、第二正镜、第三正镜、鲍威尔棱镜；所述半导体激光二极管、第一正镜、第二正镜、第三正镜、鲍威尔棱镜依次同轴设置；且半导体激光二极管与第一正镜之间、第一正镜与第二正镜之间、第二正镜与第三正镜之间、第三正镜与鲍威尔棱镜之间的间距为8.20mm、1.30mm、4.46mm、2.50mm。
基本信息
专利标题 ：
基于表面探伤应用的激光器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922367045.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-25
授权号 ：
CN211576986U
授权日 ：
2020-09-25
发明人 ：
李晓群
申请人 ：
陕西硕维光电科技有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市西咸新区沣西新城同德路天兴大厦1幢1单元2405室012工位
代理机构 ：
北京久维律师事务所
代理人 ：
邢江峰
优先权 ：
CN201922367045.3
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01B11/24 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-09-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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