一种金属膜层矩阵式检测机构
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摘要

本实用新型公开了一种金属膜层矩阵式检测机构,包括:输送架、升降驱动装置、浮动架、电阻检测仪、检测头和检测头定位套筒,所述浮动架设置在龙门架下方,所述浮动架包括端板、导轨和滑板,所述端板设置在平行分布的导轨两端,所述滑板间隔分布在端板之间,所述滑板两端分别设置有套设在导轨上的滑套,所述滑板上横向设置有腰孔,所述检测头定位套筒两个一组间隔设置在腰孔中,所述检测头设置在检测头定位套筒中并向下延伸,所述检测头分别与电阻检测仪线性连接。通过上述方式,本实用新型所述的金属膜层矩阵式检测机构,可以根据基材的尺寸进行检测头的分布,确保检测结果的准确性,提升了检测效率。

基本信息
专利标题 :
一种金属膜层矩阵式检测机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922379786.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-26
授权号 :
CN211374888U
授权日 :
2020-08-28
发明人 :
朱宪生
申请人 :
张家港市铭斯特光电科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市张家港市现代农业示范区常南社区
代理机构 :
苏州广正知识产权代理有限公司
代理人 :
李猛
优先权 :
CN201922379786.3
主分类号 :
G01R27/02
IPC分类号 :
G01R27/02  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2020-08-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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