一种用于测试光电模块的装置
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摘要

本实用新型提供了一种用于测试光电模块的装置,其能便于光电模块的测试,提高检测效率。其包括探针架和检测设备,探针架上的探针与检测设备连接,其还包括安装座,安装座上通过支架连接有手柄,手柄中间与连杆连接,连杆与推杆连接,安装座上还设置有导向块,导向块上开设有水平的导向槽,推杆穿过导向槽与探针架连接,探针架与导向块之间连接有缓冲弹簧,探针架底部两侧连接有滑块,安装座上开设有滑槽,滑块位于滑槽内使探针架与安装座滑动连接,滑槽底部开设有避让槽,避让槽上连接有弹性锁片,弹性锁片上设有锁定凸块,滑块底部开设有与锁定凸块形状相对应的锁定槽;安装座上还设有固定块,固定块顶部设有用于插入模块管脚的安装孔。

基本信息
专利标题 :
一种用于测试光电模块的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922396928.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-27
授权号 :
CN211698020U
授权日 :
2020-10-16
发明人 :
赵晓宏韦国民吴达
申请人 :
纽威仕微电子(无锡)有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市滨湖区蠡园经济开发区创意产业园9幢1楼(滴翠路100号)
代理机构 :
无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
顾吉云
优先权 :
CN201922396928.7
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-10-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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