平面轨迹检测装置

授权

摘要

本实用新型涉及检测装置技术领域，具体公开了一种平面轨迹检测装置，对应光学检测装置，该平面轨迹检测装置包括支撑平台、定位座和导向组件，定位座用于固定待检产品，待检产品具有待检测的轨迹平面，轨迹平面的至少一部分呈曲线状或者折线状，光学检测装置在定位座上形成设定检测区域，定位座被配置为能够与支撑平台滑动配合；导向组件连接支撑平台和定位座，且导向组件能够引导定位座仅相对支撑平台沿对应所述轨迹平面的设定路径滑动，以使轨迹平面依次经过光学检测装置的设定检测区域，从而光学检测装置可对轨迹平面的各个部分进行检测，相比相关技术，可减少平面轨迹检测装置的数量，并且无需采用三轴移动支撑平台，可减少成本投入。

基本信息

专利标题：

平面轨迹检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922407623.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-27

授权号：

CN210981181U

授权日：

2020-07-10

发明人：

鲁豫蔡宝国张轲封俊伟杨庆国

申请人：

立讯智造（浙江）有限公司

申请人地址：

浙江省嘉兴市嘉善县姚庄镇刘河路66号1幢

代理机构：

北京品源专利代理有限公司

代理人：

胡彬

优先权：

CN201922407623.1

主分类号：

G01B11/24

IPC分类号：

G01B11/24 G01B11/00