一种扫描电子显微镜观测用聚合物片状样品低温脆断装置
授权
摘要

一种扫描电子显微镜观测用聚合物片状样品低温脆断装置,涉及一种低温脆断装置。目的是解决扫描电子显微镜观测用聚合物片状样品的断面不平整的问题。装置由两个半基座、连接板、耐低温拉弹簧和样品夹板构成;半基座由基板、端板、第一侧板和第二侧板构成;基板端部设置有端板,样品夹板固接有圆柱,圆柱设置在端板中第二凸块的竖向的通孔内,连接板的两端分别与两个第一侧板铰连接,底板中部设置有条形开口,底板设置在两个样品夹板之间。脆断装置处理得到的样品的断面平整,因此用于扫描电镜观察时能够得到清晰的图像,并且图像的细节丰富,样品的断面平整还能够避免物镜碰触样品导致镜头损坏的发生。本实用新型适用于聚合物片状样品低温脆断。

基本信息
专利标题 :
一种扫描电子显微镜观测用聚合物片状样品低温脆断装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922407798.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-27
授权号 :
CN211478116U
授权日 :
2020-09-11
发明人 :
杨佳明韩文彬王暄
申请人 :
哈尔滨理工大学
申请人地址 :
黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号
代理机构 :
哈尔滨市松花江专利商标事务所
代理人 :
岳泉清
优先权 :
CN201922407798.2
主分类号 :
G01N23/2202
IPC分类号 :
G01N23/2202  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2202
样品制备
法律状态
2020-09-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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