一种用于测量冻土冻胀变形的光学测量装置

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摘要

本实用新型公开了一种用于测量冻土冻胀变形的光学测量装置，包括摄像机、相机安装底座、固定组件、电子靶标、至少两个复位靶标以及计算机，其中，固定组件固定在相机安装底座上，固定组件与摄像机可拆卸连接，电子靶标插在冻土层中，摄像机可拍摄所述电子靶标的图像，所述复位靶标穿过所述冻土层并插在非冻土区域中，所述复位靶标位于所述摄像机的一侧，多个所述复位靶标为所述摄像机的拍摄参考点。本实用新型利用电子靶标，将冻土的冻胀变形转换为电子靶标的位移，并通过复位靶标作为参考点，使摄像机可在同一位置拍摄电子靶标的位移状态，实现对冻土冻胀变形的光学测量，结构简单，而且可满足长期监测的需求，保证测量精度，而且成本较低。

基本信息

专利标题：

一种用于测量冻土冻胀变形的光学测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922454003.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-30

授权号：

CN211205199U

授权日：

2020-08-07

发明人：

吴学兵张文明

申请人：

智仿神州科技（武汉）有限公司

申请人地址：

湖北省武汉市东湖新技术开发区东信路光谷创业街10栋(原3)1单元1层01室227号

代理机构：

武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

易贤卫

优先权：

CN201922454003.3

主分类号：

G01B11/16

IPC分类号：

G01B11/16 G01N25/16