一种用于磁场中的光学测试装置

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摘要

本实用新型涉及磁光材料技术领域，特别涉及一种用于磁场中的光学测试装置，该装置包括用于承载的承载基座，承载基座上承载设置光纤耦合座、第一支座架和和第二支座架，光纤耦合座、第一支座架和和第二支座架呈品字形布置；光纤耦合座设置有光纤探头，光纤探头由外部引入连接有光纤组，第一支座架上设置有反射镜，第二支座架上设置有非球面镜，第二支座架于非球面镜外侧设置有样品座，光纤探头、反射镜和非球面镜形成由光纤探头引出经反射镜反射后到达非球面镜的光路。该装置置于磁场中后可以通过调整承载基座与旋转基座的相对角度，从而带动承载基座上的样品与磁力线产生夹角，进而配合光纤探头的激发对样品进行了磁光性能的研究。

基本信息

专利标题：

一种用于磁场中的光学测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922466755.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-31

授权号：

CN212059909U

授权日：

2020-12-01

发明人：

廖腊梅王洁常莎莎刘纪玲贾红赵建果

申请人：

洛阳师范学院

申请人地址：

河南省洛阳市伊滨区吉庆路6号

代理机构：

杭州知见专利代理有限公司

代理人：

单燕君

优先权：

CN201922466755.1

主分类号：

G01N21/63

IPC分类号：

G01N21/63 G01N27/72