三维工频磁场准确对位测量辅助装置
授权
摘要
一种三维工频磁场准确对位辅助测量装置,所述的测量辅助装置由测量支架、Z方向补高板和平面定位板组成。测量支架由支架底板、支柱和测量台板组成,测量支柱上附有卡高板,可调节和固定测量台板的高度。所述的Z方向补高板置于测量台板和平面定位板之间,用于补偿测量X方向和Y方向磁场分量时X方向和Y方向传感器的高度。本实用新型可以便捷地实现同点三维工频磁场分量测量的准确对位,使工频磁场测量仪各个方向的传感器中心精确定位到测量点,能精准地得到测量点上的工频磁场值。
基本信息
专利标题 :
三维工频磁场准确对位测量辅助装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922479304.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-31
授权号 :
CN212275937U
授权日 :
2021-01-01
发明人 :
黄明祥骆瑶莹卞宏志张建勋傅正财
申请人 :
国网福建省电力有限公司建设分公司;上海交通大学
申请人地址 :
福建省福州市鼓楼区五四路264号2#楼201室
代理机构 :
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张宁展
优先权 :
CN201922479304.1
主分类号 :
G01R33/02
IPC分类号 :
G01R33/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
法律状态
2021-01-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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