一种面光源出光品质测量装置
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摘要

一种面光源出光品质测量装置,包括相机、支架、底板平面和工作平台扣板,所述相机安装在支架的顶端,底板平面设于支架的底部,工作平台扣板设于所述底板平面上,相机与所述工作平台扣板的中部相对;所述工作平台扣板上设有用于安装面光源定位块的定位凹槽,所述面光源定位块的上部设有面光源安装槽,所述面光源安装槽中安装设置面光源。提供一种便捷、易操作、可快速准确测量LED面光源出光品质的测量装置及测量方法,可以快速精准的测量面光源出光品质,以满足均匀面光源设计过程中性能检测及最终产品质量评估的需求。

基本信息
专利标题 :
一种面光源出光品质测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922479341.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-31
授权号 :
CN211262478U
授权日 :
2020-08-14
发明人 :
熊鑫何灿栋冯晶
申请人 :
常州千明智能照明科技有限公司
申请人地址 :
江苏省常州市新北区华山中路18号三晶工业园3-410
代理机构 :
杭州昱呈专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
雷仕荣
优先权 :
CN201922479341.2
主分类号 :
G01J1/04
IPC分类号 :
G01J1/04  G01J1/42  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/02
零部件
G01J1/04
光学或机械部件
法律状态
2020-08-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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