触底判定基准设定方法
授权
摘要
本发明提供一种触底判定基准设定方法，能够可靠性高地设定基于参数的触底判定基准。触底判定基准设定方法包括：螺合步骤，使测定用螺丝(11)与测定用螺丝孔(13a)螺合；参数获取步骤，获取螺合步骤中的参数；触底判定步骤，基于测定用螺丝的轴力，判定触底的有无；以及判定基准设定步骤，将触底判定步骤中的判定结果与参数进行对照来设定触底判定基准。
基本信息
专利标题 ：
触底判定基准设定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112654847A
申请号 ：
CN201980057515.6
公开（公告）日 ：
2021-04-13
申请日 ：
2019-09-25
授权号 ：
CN112654847B
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
西垣弘二
申请人 ：
欧姆龙株式会社
申请人地址 ：
日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入南不动堂町801番地(邮编:600-8530)
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
马爽
优先权 ：
CN201980057515.6
主分类号 ：
G01L25/00
IPC分类号 ：
G01L25/00 G01L5/00 B25B23/14
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01L
测量力、应力、转矩、功、机械功率、机械效率或流体压力
G01L25/00
用于测量力、转矩、功、机械功率或机械效率的仪表的检测或校准
法律状态
2022-05-03 ：
授权
2021-04-30 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01L 25/00
申请日 : 20190925
申请日 : 20190925
2021-04-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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